japansensor溫度計在電氣和半導體相關應用示例分析

發(fā)布日期：2023-03-15      瀏覽次數：780

japansensor溫度計在電氣和半導體相關應用示例分析

1.激光加熱



激光加熱高速焊接小點，但要進行質量控制。

高速焊接、淬火、切割、焊接等時需要測量溫度。

選擇模型的要點

用于激光伴隨軸的輻射溫度計FTKX系列，FLHX系列和TMHX-TME系列，由于測量波長為1.95~2.5μm，因此不易受到YAG激光器等主要激光器的干擾。

這樣可以進行精確的溫度測量。

此外，0.001 秒的高速響應時間能夠可靠地捕獲微小的溫度變化。

此外，從低溫到高溫，種類繁多。

相關產品推薦

• 1ms光纖型半階型，可在惡劣環(huán)境和狹窄空間內自由使用

  

  光纖型輻射溫度計FTKX系列

  測量溫度范圍：100°C ～ 2000°C

• 纖維類型（耐熱性和耐磁場性）

• 高溫

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速響應

• 用于金屬

• 1ms輻射溫度計，其規(guī)格可根據要測量的對象而改變

  

  無纖型輻射溫度計FLHX系列

  測量溫度范圍：90°C ～ 2000°C

• 高溫

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速響應

• 用于金屬

• 快速響應的金屬溫度測量

  

  金屬輻射溫度計
  TMHX-TME0050（H）系列

  測量溫度范圍：50°C ～ 600°C

• 用于金屬

• 低溫

• 用于石英

• 快速響應的金屬溫度測量

  

  金屬輻射溫度計TMHX-TME0050（E）系列小頭型

  測量溫度范圍：50°C ～ 600°C

• 用于金屬

• 低溫

• 用于石英

• 【可視化】激光光輻射溫度計

  

  激光測光儀溫度計

  測量溫度范圍：140°C ～ 3000°C

• 微積分

• 高溫

• 用于金屬

• 0.1ms/1ms快速響應

• 激光測光儀溫度計

2.硅單晶上拉裝置的溫度控制



在坩堝中熔化多晶硅時的溫度控制，以及晶種后旋轉時的溫度控制。

從提升設備的視口進行溫度測量。

選擇模型的要點

對于硅溫度測量，最好在1.1μm或更小的波長處測量溫度，其中發(fā)射率變化很小，溫度變化很小。

FTKX系列和FLHX系列是理想的選擇，因為它們有多種長距離和小光斑類型（φ0.15~）。 光纖頭結構緊湊，耐熱溫度為150°C，因此即使環(huán)境溫度有點高也可以安裝。

由于它是頭分離型，因此不需要采取防止輻射熱的措施。

相關運用產品

• 1ms光纖型半階型，可在惡劣環(huán)境和狹窄空間內自由使用

  

  光纖型輻射溫度計FTKX系列

  測量溫度范圍：100°C ～ 2000°C

• 纖維類型（耐熱性和耐磁場性）

• 高溫

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速響應

• 用于金屬

• 1ms輻射溫度計，其規(guī)格可根據要測量的對象而改變

  

  無纖型輻射溫度計FLHX系列

  測量溫度范圍：90°C ～ 2000°C

• 高溫

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速響應

• 用于金屬